Журнал
Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики
УДК:
Номер:3 (26)
Скачать PDF0 Кбайт
ИССЛЕДОВАНИЕ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ЛАЗЕРОВ
Аннотация:
Приведены результаты исследования характеристик полупроводникового лазера типа KLM-650/3, выпускаемого фирмой «ФТИ-Оптроник», и их зависимости от тока через p-n-переход. Показано, что интенсивность излучения, степень его линейной поляризации и степень монохроматичности коррелируют ме- жду собой и характеризуют степень когерентности излучения. Обсуждается возможность использования полупроводникового лазера в различных режимах работы в качестве источника излучения в голографическом эксперименте.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- МОДЕЛИРОВАНИЕ ВОЗДЕЙСТВИЯ НИЗКОИНТЕНСИВНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ He-Ne ЛАЗЕРА НА КОЖУ И ЖИРОВУЮ ТКАНЬ
- ВЛИЯНИЕ НИЗКОИНТЕНСИВНОГО ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ЖИВЫЕ КЛЕТКИ
- ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ХАОТИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ПРИ ДВИЖЕНИИ ВОЗДУХА В ДЫХАТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЕ
- ОПТИЧЕСКИЕ КОНСТАНТЫ ЧИСТОЙ ВОДЫ
- ЧИСЛЕННАЯ ОПТИМИЗАЦИЯ ОПТИЧЕСКОЙ МОДЕЛИ ЖИРОВОЙ ТКАНИ
- ТЕРМОДИНАМИЧЕСКАЯ ОЦЕНКА ЭНЕРГО-ИНФОРМАЦИОННОГО ВЛИЯНИЯ ТВОРЧЕСКОГО ПРОЦЕССА НА ЧЕЛОВЕКА
- СИСТЕМА УПРАВЛЕНИЯ УЧЕБНЫМ ЯМР-ТОМОГРАФОМ
- ПОСТРОЕНИЕ КАРТЫ ПОСТОЯННОГО МАГНИТНОГО ПОЛЯ ТОМОГРАФА
- ТЕРМОИНДУЦИРОВАННЫЕ ЛИНЗЫ В ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ ЛАЗЕРАХ С ПРОДОЛЬНОЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ НАКАЧКОЙ
- ВОССТАНОВЛЕНИЕ ФОРМЫ СПЕКТРАЛЬНОГО КОНТУРА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ДИСКРЕТНОГО ВЕЙВЛЕТ-АНАЛИЗА
- СПЕКТРАЛЬНЫЕ СВОЙСТВА ЭЛЕКТРОНА В ПЕРИОДИЧЕСКИ СОЕДИНЕННЫХ ВОЛНОВОДАХ
- РАСПОЗНАВАНИЕ ГЛУБИНЫ ИЗОБРАЖЕНИЯ ПО ЗАТЕНЕНИЮ И ПОЛЯРИЗАЦИИ
- АНАЛИЗ ТОЧНЫХ И ПРИБЛИЖЕННЫХ МЕТОДОВ РЕШЕНИЯ ОБРАТНОЙ ЗАДАЧИ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ ДЛЯ НЕОДНОРОДНЫХ ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ
- ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ПОГРЕШНОСТИ АВТОРЕФЛЕКСИОННЫХ ИЗМЕРЕНИЙ ВСЛЕДСТВИЕ ВИНЬЕТИРОВАНИЯ
- ПОЛЯРИЗАЦИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ ПРИ РЕЛЯТИВИСТСКОМ МЕХАНИЗМЕ РАССЕЯНИЯ
- ИССЛЕДОВАНИЕ ВОЗМОЖНОСТИ ВОССТАНОВЛЕНИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО ПОЛЯ С ДВУХЭКСПОЗИЦИОННОЙ ГОЛОГРАММЫ ОСВЕЩЕНИЕМ СО СТОРОНЫ ОБЪЕКТА
- ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ФАЗОВО-КОНТРАСТНОГО МЕТОДА ЦЕРНИКЕ В СИСТЕМАХ ЛАЗЕРНОЙ МАРКИРОВКИ ИЗДЕЛИЙ
- ИССЛЕДОВАНИЕ ВРЕМЕННОЙ ВКР-КОМПРЕССИИ ШИРОКИХ ЛАЗЕРНЫХ ПУЧКОВ ФЕМТОСЕКУНДНОЙ ДЛИТЕЛЬНОСТИ
- О ПЕРЕДАТОЧНОМ ФУНКЦИОНАЛЕ В ТЕОРИИ ЛИНЕЙНОЙ ПРОСТРАНСТВЕННОЙ ФИЛЬТРАЦИИ КОГЕРЕНТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
- ВЛИЯНИЕ КОНЦЕНТРАЦИИ АКТИВАТОРОВ НА ВЕРОЯТНОСТЬ БЕЗЫЗЛУЧАТЕЛЬНОГО ПЕРЕНОСА ЭНЕРГИИ В ВЫСОКОКОНЦЕНТРИРОВАННЫХ ИТТЕРБИЙ-ЭРБИЕВЫХ СТЕКЛАХ
- ИССЛЕДОВАНИЕ ДИФРАКЦИИ НА «ЗЕРКАЛЬНОЙ» АПЕРТУРЕ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ОБЪЕКТОВ
- ТЕСТИРОВАНИЕ И УСОВЕРШЕНСТВОВАНИЕ МЕТОДА БЕССЕЛЯ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ФОКУСНЫХ РАССТОЯНИЙ ОБЪЕКТИВОВ
- КОНТРОЛЬ ОПТИКИ МИКРООБЪЕКТИВОВ НА ИНТЕРФЕРОМЕТРЕ БОКОВОГО СДВИГА ПО СХЕМЕ РОНКИ
- ОГРАНИЧЕНИЯ, ВОЗНИКАЮЩИЕ ПРИ ИСПОЛЬЗОВАНИИ СТЕКОЛ С НИЗКОЙ ДИСПЕРСИЕЙ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ В ОЧКОВОЙ ОПТИКЕ
- ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДИЧЕСКИХ ПОГРЕШНОСТЕЙ ДВУХКООРДИНАТНОГО ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОГО ДАТЧИКА КОНТРОЛЯ ПОЛОЖЕНИЯ ОБЪЕКТОВ
- МОДУЛЯЦИЯ СИГНАЛА В ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКОМ ГИРОСКОПЕ
- ВЫБОР ОПТИМАЛЬНОГО РЕЖИМА РАБОТЫ СПЕКТРАЛЬНОГО ИСТОЧНИКА НА БЕЗЭЛЕКТРОДНОЙ ГАЗОРАЗРЯДНОЙ ЛАМПЕ
- ИССЛЕДОВАНИЕ ЧЕТЫРЕХКОМПОНЕНТНОЙ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ В ФОТОМЕТРИЧЕСКОМ КАНАЛЕ РЕНТГЕНОЛЮМИНЕСЦЕНТНОГО СЕПАРАТОРА АЛМАЗНОГО СЫРЬЯ ЛС-20-07
- СИСТЕМА ПЕРЕМЕННОГО УВЕЛИЧЕНИЯ ОСВЕТИТЕЛЬНОГО УСТРОЙСТВА МИКРОСКОПА
- О ПРОБЛЕМЕ ТОЧНОСТИ СБОРКИ И ЮСТИРОВКИ ОПТИЧЕСКИХ ПРИЦЕЛОВ
- РАСЧЕТ СПЕКТРА ОПТИЧЕСКИХ МОД И ВОССТАНОВЛЕНИЕ ПРОФИЛЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНО-ОПТИЧЕСКИХ ВОЛНОВОДОВ
- ПЕРЕСЧЕТ КООРДИНАТ ЦВЕТНОСТИ ИЗ СИСТЕМЫ ЦВЕТОВ КОЛОРИМЕТРА В СИСТЕМУ XYZ
- МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ ПЕРЕДАТОЧНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ВОЛОКОННЫХ СВЕТОВОДОВ
- ОПТИЧЕСКИЙ РЕФЛЕКТОМЕТР КАК УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЗАТУХАНИЯ В ОПТИЧЕСКОМ ВОЛОКНЕ
- ЛОЖНЫЕ СТРУКТУРЫ В ТЕЛЕВИЗИОННОМ КАНАЛЕ МИКРОСКОПА
- РАЗРАБОТКА АЛГОРИТМИЧЕСКОГО И ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ДЛЯ УСТАНОВКИ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИЗОБРАЖЕНИЯ ОБЪЕКТИВА
- ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ КОНТРОЛЬНОГО ЭЛЕМЕНТА УГЛОИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ОЭС С ИЗБИРАТЕЛЬНОЙ ИНВАРИАНТНОСТЬЮ
- МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ФОТОГРАММЕТРИЧЕСКОЙ ДИСТОРСИИ
- МЕТОДИКА РАСЧЕТА ПЕРВИЧНОЙ ОПТИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗЛУЧАЮЩИХ ДИОДОВ ДЛЯ ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЗАДАННОГО СВЕТОРАСПРЕДЕЛЕНИЯ
- РАСЧЕТ ПОГРЕШНОСТИ ФОКУСНЫХ РАССТОЯНИЙ ДВУХЛИНЗОВЫХ СКЛЕЕННЫХ ОБЪЕКТИВОВ С УЧЕТОМ КЛЕЯ МЕТОДОМ СТАТИСТИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ
- ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ВНЕШНИХ УСЛОВИЙ НА ПОГРЕШНОСТЬ ПОЗИЦИОНИРОВАНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНО ПЛОСКОСТИ В ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЙ СИСТЕМЕ УПРАВЛЕНИЯ СТРОИТЕЛЬНОЙ ТЕХНИКОЙ
- ПОВЫШЕНИЕ ГЛУБИНЫ РЕЗКОСТИ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ТЕХНОЛОГИИ КОДИРОВАНИЯ ВОЛНОВОГО ФРОНТА
- МЕТОДИКА ВЫБОРА КОНСТРУКТИВНЫХ И РЕЖИМНЫХ ПАРАМЕТРОВ ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ТЕРМОСТАТА С НЕИЗОТЕРМИЧЕСКОЙ КАМЕРОЙ
- ЛОКАЛЬНАЯ АМОРФИЗАЦИЯ СТЕКЛОКЕРАМИКИ ИЗЛУЧЕНИЕМ YAG:Nd-ЛАЗЕРА
- ОПТИЧЕСКАЯ СТЕКЛОКЕРАМИКА НА ОСНОВЕ ФТОРСОДЕРЖАЩИХ СИЛИКАТНЫХ СТЕКОЛ, АКТИВИРОВАННЫХ РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫМИ ИОНАМИ
- ПОЛЯРИЗОВАННАЯ ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ ИОНОВ ПЕРЕХОДНЫХ МЕТАЛЛОВ В СТЕКЛОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛАХ
- ВЛИЯНИЕ МОЩНОСТИ НАКАЧКИ НА СПЕКТРАЛЬНО-ЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ВЫСОКОКОНЦЕНТРИРОВАННЫХ ИТТЕРБИЙ-ЭРБИЕВЫХ СТЕКОЛ
- ГИДРОТЕРМАЛЬНЫЙ СИНТЕЗ НАНОКРИСТАЛЛОВ В СИСТЕМЕ ZrO2-Eu2O3
- ПОРИСТЫЕ СТЕКЛА КАК ФУНКЦИОНАЛЬНЫЙ ЭЛЕМЕНТ МИКРОФЛЮИДНЫХ ЧИПОВ
- ПРОСТРАНСТВЕННОЕ РАСПРЕДЕЛЕНИЕ ИОНОВ Tb ВО ФТОРОАЛЮМИНАТНЫХ СТЕКЛАХ
- ЛАЗЕРНАЯ МОДИФИКАЦИЯ СТРУКТУРЫ ФОТОСИТАЛЛОВ
- ОСОБЕННОСТИ ТРАВЛЕНИЯ ЛАЗЕРНОГО КРИСТАЛЛА LiYF4 В РАСТВОРАХ HCl
- РАЗРАБОТКА НИЗКОТЕМПЕРАТУРНОГО МЕТОДА СИНТЕЗА СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ СИСТЕМЫ (Bi1-хLaх)4Ti3O12 РАЗНОЙ ДИСПЕРСНОСТИ, ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ ПОЛУЧЕННЫХ МАТЕРИАЛОВ
- О СУЩЕСТВОВАНИИ РЕЗОНАНСОВ В СЛАБО СВЯЗАННЫХ МАГНИТНЫХ НАНОСЛОЯХ
- МИНЕРАЛЬНЫЕ РЕОМОДИФИКАТОРЫ ЦЕМЕНТНЫХ КОМПОЗИЦИЙ
- ФОТОФИЗИЧЕСКИЙ МЕХАНИЗМ ВЫЖИГАНИЯ ДОЛГОЖИВУЩИХ ПРОВАЛОВ В СПЕКТРЕ ПОГЛОЩЕНИЯ СИСТЕМЫ «КВАНТОВЫЕ ТОЧКИ-МАТРИЦА»: КВАНТОВОРАЗМЕРНЫЙ ЭФФЕКТ ШТАРКА
- РЕЛАКСАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В КВАНТОВЫХ ТОЧКАХ С УЧАСТИЕМ ОБЪЕМНЫХ ПЛАЗМОННЫХ МОД ЛЕГИРОВАННЫХ КОМПОНЕНТ ГЕТЕРОСТРУКТУР
- ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ СОСТАВА И УСЛОВИЙ СИНТЕЗА КЕРАМИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ
- ТЕРМОДИНАМИЧЕСКИЙ ПОДХОД К ИССЛЕДОВАНИЮ ПОВЕДЕНИЯ КЕРАМИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ В УСЛОВИЯХ СИНТЕЗА