<p>Во многих измерительных оптико-электронных приборах (ОЭП) различного назначения<br /> регистрация измерительной информации сводится к высокоточному измерению координат<br /> малоразмерных изображений, формируемых на матричных приборах с зарядовой связью<br /> (ПЗС). Реализация современных алгоритмов обработки изображений позволяет<br /> регистрировать координаты изображений с погрешностями до сотых долей от размера<br /> единичного элемента ПЗС структуры. Однако на практике на точность измерений<br /> существенное влияние оказывает качество изображения, формируемого на матрице и в<br /> первую очередь его изменение по полю матрицы. Кроме этого, в последнее время в<br /> проектировании ОЭП, особенно инфракрасного диапазона, наметилась тенденция упрощения<br /> конструктивных решений объективов. Упрощение конструкций объективов улучшает их<br /> габаритно-весовые параметры, но приводит к ухудшению качества изображения по рабочему<br /> полю объектива. В результате возрастают систематические погрешности измерения<br /> координат малоразмерных изображений в различных зонах матрицы. Погрешности подлежат<br /> компенсации с использованием программных средств.</p>