Например, Бобцов

Метод измерения времени жизни носителей заряда в базовых областях быстродействующих диодных структур

Аннотация:

Предложен метод измерения времени жизни носителей заряда в базовых областях, позволяющий производить измерения времен жизни, начиная с единиц наносекунд. Разработанная методика предусматривает такую же форму измерительного импульса тока, какая используется при стандартных измерениях времен восстановления диодных структур.

Ключевые слова:

Статьи в номере