Журнал
Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики
УДК:
Номер:4 (15)
Скачать PDF0 Кбайт
Предложен метод измерения времени жизни носителей заряда в базовых областях, позволяющий производить измерения времен жизни, начиная с единиц наносекунд. Разработанная методика предусматривает такую же форму измерительного импульса тока, какая используется при стандартных измерениях времен восстановления диодных структур.