Использование явления муара для увеличения точности дифракционных методов контроля геометрических параметров и пространственного положения объектов
Аннотация:
Рассмотрен дифракционный метод контроля, позволяющий использовать фазовую составляющую измерительного сигнала, несущую данные о геометрической форме и пространственном положении объекта. Для повышения чувствительности и точности измерений была реализована оптическая система обработки информации, в которой контролируемый объект освещается двумя смещенными в пространстве пучками когерентного излучения. Это позволило ввести фазовый сдвиг между их частотными спектрами при изменении параметров объекта и получить в плоскости регистрации муар-интерференционные полосы, анализируя которые можно получить данные о контролируемом объекте. Дан пример использования метода для исследования формы профиля края объекта.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- Итерационный алгоритм определения координат изображений точечных излучателей
- Особенности фоточувствительности лазерных фототерморефрактивных наностеклокерамик, активированных ионами редкоземельных элементов
- Модификация структуры халькогенидных стеклообразных полупроводников под воздействием фемтосекундного лазерного излучения
- Измерение показателя преломления неоднородного просветляющего покрытия
- Исследование двухлинзовых объективов-ахроматов как базовых элементов светосильных объективов приборов ночного видения