ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ ПОЛИРОВАННОГО ОПТИЧЕСКОГО СТЕКЛА
Аннотация:
Проведены эллипсометрические исследования свойств поверхностного слоя, который возникает при длительном механическом полировании оптического стекла марки K8. Установлено, что при относительно непродолжительном полировании стекла к полированному слою можно применять модель однородного диэлектрического слоя; определены параметры слоя - показатель пре¬ ломления и толщина. Показатель преломления слоя несколько меньше показателя преломления ненарушенного стекла, а толщина изменяется в пределах 200-700 нм в зависимости от длительности полирования. На глубоко полированных образцах выявлены проявления неоднородности полированного стекла, которые можно описать переходным слоем на внешней границе полированного слоя толщиной около 50 нм.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- УСИЛЕНИЕ ПОВОРОТА ПЛОСКОСТИ ПОЛЯРИЗАЦИИ СЛОЕМ ХОЛЕСТЕРИЧЕСКОГО ЖИДКОГО КРИСТАЛЛА
- ЛАЗЕРНОЕ ТЕРМОРАСКАЛЫВАНИЕ ХРУПКИХ НЕМЕТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ ПО ЗАМКНУТЫМ КРИВОЛИНЕЙНЫМ КОНТУРАМ
- МАТРИЧНЫЙ МЕТОД РАСЧЕТА ПОЛЯРИЗАЦИОННЫХ АБЕРРАЦИЙ
- ВЗАИМОСВЯЗЬ ОПТИЧЕСКИХ И ИНФОРМАЦИОННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК СВЕТОИНФОРМАЦИОННЫХ СИСТЕМ
- ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ МЕТОД РАСПОЗНАВАНИЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ ПО ЗАТЕНЕНИЮ
- ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА И ПРИМЕНЕНИЕ МУЛЬТИДОМЕННЫХ ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СТРУКТУР
- ПРИМЕНЕНИЕ МУЛЬТИДОМЕННЫХ ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СТРУКТУР ДЛЯ УЛУЧШЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОЛИНЗ
- СУДОВОЙ ЛИДАР ДЛЯ ГИДРОЛОГИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ
- МИКРОСКОПЫ С РАСТРОВЫМИ ОСВЕТИТЕЛЬНЫМИ УСТРОЙСТВАМИ
- ИЗМЕРЕНИЕ ФУНКЦИЙ ПЕРЕДАЧИ МОДУЛЯЦИИ ОБЪЕКТИВОВ С ПОМОЩЬЮ МАТРИЧНЫХ ПЗС-ФОТОПРИЕМНИКОВ
- ПРИМЕНЕНИЕ ИМПУЛЬСОВ СМЕЩЕНИЯ ДЛЯ ВЫРАВНИВАНИЯ СИГНАЛОВ В МАТРИЧНЫХ МИКРОБОЛОМЕТРИЧЕСКИХ ПРИЕМНИКАХ
- НАНОФОТОРЕАКТОРЫ НА ОСНОВЕ ЖИДКИХ ОРГАНИЗОВАННЫХ СРЕД
- ТЕКСТУРИРОВАННЫЙ ОПТИЧЕСКИЙ ЛЕЙКОСАПФИР
- ВЛИЯНИЕ ТРЕЩИНЫ И ДЕФЕКТНОГО МАТЕРИАЛА В ЕЕ ОКРЕСТНОСТИ НА ЛУЧЕВУЮ ПРОЧНОСТЬ ПРОЗРАЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ